久久99精品久久久久国产-亚洲天堂2020在线观看-黑人群奸黑人妞-大屌操小穴视频

產(chǎn)品展示
PRODUCT DISPLAY
產(chǎn)品展示您現(xiàn)在的位置: 首頁 > 產(chǎn)品展示 > 物理性能檢測 > 膜厚計 >自動膜厚測量系統(tǒng) 測厚儀

自動膜厚測量系統(tǒng) 測厚儀

訪問次數(shù):2058

更新日期:2025-05-02

簡要描述:

日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50
F50自動測繪膜厚測量系統(tǒng)是將基于光學(xué)干涉原理的膜厚測量功能與自動高速載物臺相結(jié)合的系統(tǒng)。
以過去無法想象的速度測量點的膜厚和折射率。它支持從2英寸到450毫米的硅基板,并且可以任何測量點。

自動膜厚測量系統(tǒng) 測厚儀
類型數(shù)字式測量范圍1

日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50

F50自動測繪膜厚測量系統(tǒng)是將基于光學(xué)干涉原理的膜厚測量功能與自動高速載物臺相結(jié)合的系統(tǒng)。
以過去無法想象的速度測量點的膜厚和折射率。它支持從2英寸到450毫米的硅基板,并且可以任何測量點。
還有與大型玻璃基板兼容的可選產(chǎn)品。

主要特點

  • 結(jié)合基于光學(xué)干涉原理的膜厚測量功能和自動高速載物臺的系統(tǒng)

  • 以過去無法想象的速度測量點的膜厚和折射率

  • 兼容2英寸至450毫米的硅基板,可任何測量點

日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50

主要應(yīng)用

半導(dǎo)體
抗蝕劑、氧化膜、氮化膜、非晶/多晶硅、拋光硅片、化合物半導(dǎo)體襯底、?T襯底等。
平板單元間隙、聚酰亞胺、ITO、AR膜、
各種光學(xué)膜等。
薄膜太陽能電池CdTe、CIGS、非晶硅等
砷化鋁鎵(AlGaAs)、磷化鎵(GaP)等

測量示例

薄膜厚度分析 FIL Mapper 軟件具有強大而*的薄膜厚度分析算法和可以讓您輕松測量點的功能。


留言框

  • 產(chǎn)品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯(lián)系電話:

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 補充說明:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結(jié)果(填寫阿拉伯?dāng)?shù)字),如:三加四=7
聯(lián)系方式
  • 電話

  • 傳真

在線交流
万安县| 定南县| 大化| 锡林郭勒盟| 达日县| 当阳市| 台前县| 陵水| 襄汾县| 克什克腾旗| 澄迈县| 遂平县| 绥中县| 象州县| 巨鹿县| 华安县| 安平县| 洛隆县| 会昌县| 塔河县| 观塘区| 济阳县| 大竹县| 买车| 威海市| 攀枝花市| 太仆寺旗| 许昌市| 金阳县| 黑水县| 陇川县| 绥德县| 米林县| 安龙县| 资源县| 英德市| 金寨县| 克什克腾旗| 禄丰县| 五莲县| 灌南县|