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日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES

訪問次數(shù):1512

更新日期:2025-05-02

簡要描述:

日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES
DUORES手持式薄層電阻測量儀(2個探頭更換用[接觸式和非破壞性測量探頭])

日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES

日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES

 

產(chǎn)品特點

易于攜帶和測量的手提式薄層電阻測量儀:DUORES

根據(jù)測量目標(biāo)交換并使用兩種類型的探頭(非破壞性和接觸型)。

•世界首chuang的便攜式薄層電阻測量裝置,可以替換和使用兩種類型的探頭(非破壞性和接觸型) •
只需放置/應(yīng)用探頭即可自動進行測量
•電池連續(xù)工作時間:24小時(*電池)使用時)
•顯示的數(shù)據(jù)數(shù)量:z多100(*從新數(shù)據(jù)顯示)

•保存的數(shù)據(jù)數(shù)量:z多50,000(*軟件顯示)
•測量數(shù)據(jù)傳輸功能:USB-Mini
•顯示:3種類型的顯示單位(Ω/□,S /□,n / m [金屬膜厚度轉(zhuǎn)換]), 4位浮點少數(shù)點(0.000至9999)

日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES

測量規(guī)格

測量目標(biāo)

薄膜,玻璃,紙材料等
通常,可以在測量范圍內(nèi)測量任何樣品。
•薄膜材料(ITO,TCO等)
•低電子玻璃
•碳納米管,石墨烯材料
•金屬材料(納米線,網(wǎng)格,網(wǎng)眼)
•其他

測量尺寸

不論尺寸和厚度如何均可測量
(*大于每個探頭的測量點尺寸)

<測量點>

?無損探棒(渦電流型):φ25mm

?接觸式探頭(4種探頭類型):9毫米

測量范圍

?無損探棒(渦電流法):0.5 -200Ω/ sq
?接觸探棒(4探針法):0.1 -4000Ω/ sq

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