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日本ARK檢查高照度型檢查燈AT-50C 光學(xué)測量儀
日本ARK檢查高照度型檢查燈AT-50C 功耗80W和1，400，000Lx！ *1 它具有簡單的設(shè)計和調(diào)光音量。 它可以用作金屬鹵化物燈的替代品。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1564
日本ARK目視檢查的立式白光LED光源LS-HF-W 光學(xué)測量儀
日本ARK目視檢查的立式白光LED光源LS-HF-W 這是一種用于目視檢查的立式白光LED光源。 由于自然散熱，不會產(chǎn)生灰塵，使其成為潔凈室的理想選擇。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1479
日本ARK用于檢查的白色 LED 光源 LS-HF-1.5 光學(xué)測量儀
日本ARK用于檢查的白色 LED 光源 LS-HF-1.5 這是一款用于檢查的白色 LED 光源，由于其無風(fēng)扇設(shè)計，具有出色的安靜運行。 它不會排放灰塵，非常適合在潔凈室中使用。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1456
日本ARK標(biāo)準光源250W Hg-Xe燈AT250S 光學(xué)測量儀
日本ARK標(biāo)準光源250W Hg-Xe燈AT250S 它是配備250W Hg-Xe燈的標(biāo)準光源。 它可用于廣泛的應(yīng)用，例如暴露和附著力、化學(xué)反應(yīng)評估和表面處理。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1460
日本ARK表面照明LED光源 MS-80 光學(xué)測量儀
日本ARK表面照明LED光源 MS-80 它是一種光源，可以將光以高度均勻性照射到任何區(qū)域和形狀。 光學(xué)設(shè)計使照射均勻性達到3%或更低。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1404
日本ARK線照明UV-LED光源LS-180 光學(xué)測量儀
日本ARK線照明UV-LED光源LS-180 這是一種UV-LED光源，以線條形狀發(fā)射高強度紫外線。 我們提供滿足您需求的光源，例如線長、寬、波長和紫外線強度。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1459
LS-1-RAL3日本ARK用于半導(dǎo)體標(biāo)線對準的UV-LED光源 光學(xué)測量儀
日本ARK用于半導(dǎo)體標(biāo)線對準的UV-LED光源LS-1-RAL3 這是一種UV-LED光源，用作標(biāo)線對準的照明。 通過切換到獨立的LED照明進行標(biāo)線對準，可以照射具有高穩(wěn)定性和長壽命的高質(zhì)量光。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1521
日本ARK表面輻照通用UV-LED光源 MS20LX-365 光學(xué)測量儀
日本ARK表面輻照通用UV-LED光源 MS20LX-365 它是一種UV-LED光源，可以高強度照射Φ20~30mm區(qū)域。 UV-LED 燈頭緊湊地組合了多個 LED，可有效照亮所需區(qū)域。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1409
日本ARK點照射UV-LED固化燈LS-4C 光學(xué)測量儀
日本ARK點照射UV-LED固化燈LS-4C 它是使用紫外光固化粘合劑粘合光學(xué)元件和非常小的部件的理想選擇。 此型號專為獨立使用而設(shè)計。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1477
SF-IR54-4-406日本ARK液晶面板周邊曝光的UV-LED光源 光學(xué)測量儀
日本ARK液晶面板周邊曝光的UV-LED光源SF-IR54-4-406 這是一種用于液晶面板周邊曝光的UV-LED光源。 通過將使用UV燈和光導(dǎo)的傳統(tǒng)方法改為UV-LED頭方法，大大有助于延長光源的使用壽命并降低維護成本。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1401
EW04S日本ARK高輸出型晶圓外圍曝光UV-LED光源 光學(xué)測量儀
日本ARK高輸出型晶圓外圍曝光UV-LED光源EW04S 用于g線和i線光刻膠晶圓外圍曝光的UV-LED光源。 光學(xué)設(shè)計可實現(xiàn) 7，000 mW/cm² 或更高的高輸出。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1479
EW01S日本ARK用于晶圓外圍器件曝光的UV-LED光源 光學(xué)測量儀
日本ARK用于晶圓外圍器件曝光的UV-LED光源EW01S 用于g線和i線光刻膠晶圓外圍曝光的UV-LED光源。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1347
日本ARK點照射通用光源AGIL-V 它是使用紫外光固化粘合劑粘合光學(xué)元件和非常小的部件的理想選擇。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1113
YP-150I/YP-250I日本yamada半導(dǎo)體晶圓瑕疵檢查燈 光學(xué)測量儀
日本yamada半導(dǎo)體晶圓瑕疵檢查燈YP-150I/YP-250I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來
更新日期：2024-03-23 訪問量：1253
YP-150I/YP-250I日本yamada半導(dǎo)體行業(yè)用目視檢查燈 光學(xué)測量儀
日本yamada半導(dǎo)體行業(yè)用目視檢查燈YP-150I/YP-250I 可照明様品表面範(fàn)囲於400.000Lx以上。 因使用鹵素光源燈的光源，具有色溫度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1588
